TESCAN S8000超高分辨場發射掃描電鏡

TESCAN S8000超高分辨場發射掃描電鏡

泰思肯
上海
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全新設計的S8000超高分辨場發射掃描電鏡可以提供無與倫比的圖像質量,具有強大的擴展分析能力,能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求,不僅適用于高端的納米分析應用,也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。

S8000 FE-SEM的優點:新一代鏡筒內電子加速、減速技術,保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力首次配置的靜電-電磁復合物鏡,物鏡無磁場外泄,實現磁性樣品高分辨成像及分析配置4個新一代探測器,可實現9種圖像觀測,對樣品信息的采集更加全面配置大型樣品室,有超過20個擴展接口,為原位觀測、分析創造了良好的工作環境可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件,如EDS、EBSD、CL、EBL,并獨家實現與Raman聯用


創新的電子光學鏡筒,使電鏡擁有更加出色的超高分辨率


TESCAN S8000配置了最新的BrightBeam?鏡筒,實現了無磁場超高分辨成像,可以最大化的實現各種分析,包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設計增強了低能量電子成像分辨率,特別適合對電子束敏感樣品和不導電樣品的分析。

另外,EquiPower?透鏡技術可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩定性。


BrightBeam?電子光學鏡筒及探測器系統

(A)Axial detect (In-Beam)

(B)Multidetect (In-Beam)

(C)E-T detect (In-Chamber)

(D)Retractable BSE (In-Chamber)


配備最新的多種探測器,更好的表面靈敏度和對比度

S8000可配置最新的多種探測器,包括透鏡內Axial detect 以及 Multidetect,可選擇不同角度和不同能量來收集信號,體現更多種類的信息,同時獲得更好的表面靈敏度和對比度。

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